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激光粒度仪的测量原理,对激光粒度仪的技术发展包括光路系统的设计与优化

更新时间:2018-10-26 点击数:638

激光粒度仪的测量原理,对激光粒度仪的技术发展包括光路系统的设计与优化

激光粒度仪是一种应用广泛的粒度测量仪器。本文介绍了激光粒度仪的测量原理,对激光粒度仪的技术发展包括光路系统的设计与优化、探测器及其他方面的改进作了概述。仪器的光学结构对其性能具有决定性的影响,光学结构的优化主要是为了扩展仪器的测量下限;采用不同的探测器则可以保证仪器的高重现性和全量程的高分辨率。文章最后展望了激光粒度仪的发展方向。

科学研究和工农业生产中的固体原料和制品,很多都是纳米粒度仪的结构如图1所示。以粉体形态存在的,颗粒粒度分布对这些产品的质量和性能起 着重要的作用。例如,催化剂的粒度对催化效果有着重要的影 响;水泥的粒度影响凝结时间及最终的强度;各种矿物填料的粒 度影响着制品的质量与性能;涂料的粒度会影晌涂饰效果和表 面光泽;药物的粒度影响口感、吸收率和疗效等等。因此,在粉 体加工与应用领域中,相应的颗粒粒度测量就显得相当重要。 有效地测量与控制粉体的颗粒粒度及其分布,对提高产品质量、 降低能源消耗、控制环境污染、保护人类的健康等具有重要意 义。 图1 激光粒度仪的简单装置图 颗粒粒度测量的方法〔1’2〕很多,激光散射法是目前用途最 广泛的一种。这种方法具有测量范围宽(通常为0.1~ 由激光器(一般为He-Ne激光器或半导体激光器)发出的 光束。

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