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动态光散射原理-纳米粒度设备的理论基础

更新时间:2018-11-26 点击数:713

动态光散射原理-纳米粒度设备的理论基础

基于动态光散射原理的纳米粒度仪的理论基础是基于动态光散射原理。纳米粒度分析仪的基本测试原理:激光光电倍增管(PMT)放大器/鉴别器数字相关器计算机入射透镜样品池基于动态光散射纳米粒度分析仪原理基本测试原理图激光器发射的激光器激光通过入射光路照射到样品池中的颗粒上。散射光通过接收光路进入光电探测器,然后由数字相关器获得其光强度的自相关函数G时的散射光强度。对于静止过程,t = 0。根据高斯光场的Siegert关系,可以获得光强度自相关函数G的光强度自相关函数的值,其通常被称为基线。它可以在测试中直接测量,该测试是反映整个光学系统的空间相干性的参数。空间相干因子主要由系统的光学性质决定。对于单分散粒子系统,存在延迟时间; Γ是线宽(或衰减率),其表达式为:粒子的平移扩散系数,q为散射矢量,n为溶剂的折射率,θ为散射角。

对于真空中的光波长。对于纳米粒度仪的球形颗粒,根据Stokes-Einstein公式,D与颗粒直径d具有以下关系:= 1.3810-23是绝对温度,η是溶剂粘度,d是颗粒直径。可以看出自相关操作的表征和动态光散射原理的物理意义来测试纳米粒子尺寸的理论基础,在外部条件的条件下,粒径只是光强度自相关函数的线宽。 (衰减率)纳米粒度分析器中动态光散射原理中最关键和最主要的任务是获得散射光的自相关函数。因此,粒度测试方法中的动态光散射法(DLS)也变为光子相关光谱法(PCS)。相关的动态光散射技术是一种常用于处理随机过程和噪声理论的方法。

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