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纳米粒度仪利用激光粒度仪对自制近纳米氢氧化铝进行粒径分析

更新时间:2018-09-14 点击数:542

六偏磷酸钠和十二烷基苯磺酸钠为分散剂,纳米粒度仪利用激光粒度仪对自制近纳米氢氧化铝进行粒径分析。考察了分散体系、氢氧化铝溶液浓度、超声分散时间等因素对近纳米氢氧化铝粒径测定的影响,并与电镜所测的近纳米氢氧化铝粒径作比较,确定了近纳米氢氧化铝粒径的最佳测定条件。

纳米粒度仪就某 种意义上讲就是实现原子或分子操作的超精细加工技术。纳米科技的各个领域都涉 及对纳米尺度物质的形态、成分、结构及其物理/化学性能(功能)的测量、表征。 纳米测量在纳米科技中起着信息采集和分析的不可替代的重要作用。它包含纳米尺 度可视化、纳米尺度测量和纳米尺度物质性能分析等内容。现在纳米技术的发展已 经能够制造纳米尺度的样品。亚微米到纳米精度的维度测量已经成为目前工业发展 和科学发展中迫切需要解决的问题。例如,在光学精密加工中平面、光学形貌、曲 率半径等的测量占有重要地位。目前使用商售相位测量干涉仪(PMI)并用误差 分离技术可以使PMI测量平面和近似平面的不确定度达到lnm,在球面光学测 量中可得到更高的不确定度。美国NIST X.ray准确光学系统校准干涉仪(X CALIBIR)被设计用于平面、球面以及非球面光学系统的测量,对平面、光 学形貌、曲率半径测量在孔径达300mm的范围扩展。

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