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由于粉体材料颗粒的形状不可能都是均匀,纳米粒度仪有各种各样的结构

更新时间:2018-09-11 点击数:472

由于粉体材料颗粒的形状不可能都是均匀,纳米粒度仪有各种各样的结构

由于粉体材料颗粒的形状不可能都是均匀球形的,纳米粒度仪有各种各样的结构,因此,在大多数情况下粒度分析仪所测的粒径是一种等效意义上的粒径,和实际的颗粒大小分布会有一定的差异,因此只具有相对比较的意义。等效粒径(D)和颗粒体积(V)的关系可以用表达式D=1.24V1/3表示。此外,各种不同粒度分析方法获得的粒径大小和分布数据也可能不能相互印证,不能进行绝对的横向比较。 由于粉体材料的颗粒大小分布较广,可以从纳米级到毫米级,因此在描述材料粒度大小时,可以把颗粒按大小分为纳米颗粒、超微颗粒、微粒、细粒、粗粒等种类。依据这些颗粒的种类可以采用相应的粒度分析方法和仪器。近年来,随着纳米科学和技术的迅速发展。

纳米材料的颗粒分布以及颗粒大小已经成为纳米粒度仪材料表征的重要指标之一,在普通的材料粒度分析中,其研究的颗粒大小一般在100nm~1um尺寸范围。面对纳米材料研究,其zui关注的尺度范围。按原理分较先进的三种典型方法是:高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。集中激光粒度分析法按其分析粒度范围不同,又划分为光衍射法和动态光散射法。衍射法主要针对微米、亚微米级颗粒;散射法则主要针对纳米、亚微米级颗粒的粒度分析。电超声粒度分析方法是zui新出现的粒度分析方法,主要针对高浓度体系的粒度分析。纳米材料粒度分析的特点是分析方法多,主要针对高浓度体系的粒度分析。


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