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纳米粒度仪通过UV-Vis光谱仪测量的未掺杂和Ag掺杂的TiO 2纳米颗粒

更新时间:2018-09-06 点击数:503

纳米粒度仪通过UV-Vis光谱仪测量的未掺杂和Ag掺杂的TiO 2纳米颗粒

通过X射线衍射(XRD),纳米粒度仪(PSA),扫描电子显微镜(SEM)和UV-可见分光光度计表征合成的产物。 XRD图谱证实了合成样品的四方结构。使用Debye-Scherrer公式从X射线谱展宽确定合成的纳米颗粒的平均微晶尺寸。随着煅烧温度从300℃升高到800℃,微晶尺寸在8到33nm之间变化。与未掺杂的TiO 2相比,掺入3至5%Ag +代替Ti 4+引起纳米晶体尺寸的减小。 SEM显微照片显示颗粒的团聚球形形态。 SEM,PSA和XRD测量显示粉末的颗粒尺寸为纳米级。光学吸收测量表明在银掺杂时吸收带边缘发生红移。通过UV-Vis光谱仪测量的未掺杂和Ag掺杂的TiO 2纳米颗粒的直接允许带隙在500℃下分别为3.00和2.80eV。通过溶胶 - 凝胶法合成未掺杂和掺杂银的TiO 2纳米颗粒。

公司拥有一批从事电子工程开发、研究和机械自动化控制设计、制造的专业技术人才,专业基础扎实,软件开发、硬件制作精益求精。在追求不断创新的同时,更加注重“质量至上,诚信服务”,对各种行业的粉体材料,积累了丰富的分析测试经验,在粉体粒度检测领域取得了辉煌的业绩。
公司生产的JL系列激光粒度测试仪,参照ISO13320等国际标准、全量程米氏散射理论原理,于1990年首获国家专利, 1992年经中国测试研究院检定合格,1993年中国颗粒测试专业委员会测试评定合格,现有粉体粒度测试专有专利技术20多项。在历届全国粒度仪量值比对活动中,成都精新JL系列激光粒度仪、颗粒图像分析仪均获得最优A级,在国内外市场享有盛誉,测试精度达到国外同类仪器测量水平。

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