全国粒度仪采购热线:
400-011-9697

联系我们

济南总部

地址:济南市天桥区梓东大道299号鑫茂齐鲁科技城

销售热线:400-011-9697

电话:0531-61388337 13082756871(王)

传真:0531-88965580

邮箱:jnnktyq@163.com

所在位置:首页 > 技术支持

粒度分析仪有时称为准弹性光散射法(QELS)

更新时间:2018-08-30 点击数:700

粒度分析仪有时称为准弹性光散射法(QELS)

粒度分析仪(PSA),扫描电子显微镜(SEM)和UV-可见分光光度计表征合成的产物。 XRD图谱证实了合成样品的四方结构。使用Debye-Scherrer公式从X射线谱展宽确定合成的纳米颗粒的平均微晶尺寸。随着煅烧温度从300℃升高到800℃,微晶尺寸在8到33nm之间变化通过溶胶凝胶法合成未掺杂和掺杂银的TiO 2纳米颗粒(Ti 1-x Ag x O 2,其中x = 0.00-0.10)。通过X射线衍射(XRD)。

动态光散射法(DLS),粒度分析仪有时称为准弹性光散射法(QELS),是一种成熟的非侵入技术,可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布,使用最新技术,粒度可小于1nm。 动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。 悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动,造成散射光光强的波动。 分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度,再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。与未掺杂的TiO 2相比,掺入3至5%Ag +代替Ti 4+引起纳米晶体尺寸的减小。

粒度分析仪SEM显微照片显示颗粒的团聚球形形态。 SEM,PSA和XRD测量显示粉末的颗粒尺寸为纳米级。所有系统均可与 MPT-2 自动滴定仪连接使用,实现趋势测量和样品制备的自动化。光学吸收测量表明在银掺杂时吸收带边缘发生红移。通过UV-Vis光谱仪测量的未掺杂和Ag掺杂的TiO 2纳米颗粒的直接允许带隙在500℃下分别为3.00和2.80eV。


相关内容