粒度分析仪（PSA），扫描电子显微镜（SEM）和UV-可见分光光度计表征合成的产物。 XRD图谱证实了合成样品的四方结构。使用Debye-Scherrer公式从X射线谱展宽确定合成的纳米颗粒的平均微晶尺寸。随着煅烧温度从300℃升高到800℃，微晶尺寸在8到33nm之间变化通过溶胶凝胶法合成未掺杂和掺杂银的TiO 2纳米颗粒（Ti 1-x Ag x O 2，其中x = 0.00-0.10）。通过X射线衍射（XRD）。

动态光散射法(DLS)，粒度分析仪有时称为准弹性光散射法（QELS），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用最新技术，粒度可小于1nm。 动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。 悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动，造成散射光光强的波动。 分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。与未掺杂的TiO 2相比，掺入3至5％Ag +代替Ti 4+引起纳米晶体尺寸的减小。

粒度分析仪SEM显微照片显示颗粒的团聚球形形态。 SEM，PSA和XRD测量显示粉末的颗粒尺寸为纳米级。所有系统均可与 MPT-2 自动滴定仪连接使用，实现趋势测量和样品制备的自动化。光学吸收测量表明在银掺杂时吸收带边缘发生红移。通过UV-Vis光谱仪测量的未掺杂和Ag掺杂的TiO 2纳米颗粒的直接允许带隙在500℃下分别为3.00和2.80eV。